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SJ/T11399-2009半导体发光二极管芯片测试方法

无忧资源网2024-08-22 22:20　31 浏览
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内容介绍

主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。 SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法 SJ/T11399-2009

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