GB/T5095.2506-2020电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-6部分:试验25f:眼图和抖动

GB/T 5095.2506-2020.Electromechanical components for electronic equipment-Basic testing procedures and measuring methods-Part 25-6:Test 25f: Eye pattern and jitter.
1总则
1.1范围和目的
GB/T 5095的本部分适用于电连接器、电缆组件或IECTC48范围内的互连系统。
GB/T 5095.2506描述了测量时域内眼图响应和抖动的方法。
1.2 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
1.2.1
眼图 eye pattern
同步伪随机数字数据的示波器显示(信号幅度-时间),表明的累计输出波形的叠加。
1.2.2
抖动 jitter
信号跨越规定的基准电压电平时的最初和最后时间差。
1.2.3
位(比特)周期 bit period
时钟信号的连续相同边缘之间(上升至上升或下降至下降)的时间间隔。此为时钟频率的倒数。
1.2.4
偏斜 skew
两个信号通道之间的传输延迟差。
1.2.5
测量系统上升时间 measurement system rise time
安装就位无样品,并具有滤波(或归一化)作用的装置测量的上升时间。通常,测量的是10%~90%电平的上升时间。
2试验设施
2.1设备
2.1.1 具有时钟输出、能产生规定.上升和下降时间及数据图形信号的高速图形发生器。
2.1.2具有外部时钟输 人、能无限余辉显示的信号分析仪。通常为一具有采样头的数字采样示波器(DSO)。优选具有模板功能的数字采样示波器。
注:要确保不超过示波器输人端口允许的最大输入额定值,防止造成代价高昂的损失并保证可靠的测量。即使信号偏移在示波器的允许最大信号电平范围内也可能产生不稳定的眼图响应。